基于RFLE設備在歐洲最大的儲存器生產商（英飛凌，ST，賽風，IMEC）的測試上取得的巨大成功，新型高性能的RIFLE-SE系統已經被開發用于單個儲存單元，獨立或者嵌入式先進的非易失性儲存（NAND/NOR標準閃存，多級，雙位，PCM）。

RIFLE-SE擁有全新的結構體系，可提供十倍的數字和模擬性能，并添加了新的重要的功能，擴大其應用領域，大大減少了測試時間。

RIFLE-SE擁有改進過的用戶界面，完全圖形化，只需要點擊鼠標即可進行復雜的分析和顯示。

應用領域

RIFLE-ES已經被開發了用于深入研究非易失性儲存單元和陣列的行為和可靠性。

它的易用性高和易編程性的界面，和一個專用的高性能測試引擎，使用它能用于在比較廣泛的應用當中，比如在技術和產品開發，以及在內存設備的生命周期中。

技術和產品開發

單元可靠性研究：

• 單元測試和表征 (IV, Vt)
• 單個單元循環
• 算法實驗 (脈沖波形，長度…)

陣列可靠性研究:

• 陣列測試和表征 (分布，映射，子集識別)
• 全部或者部分陣列循環
• 算法實驗 (編程與擦除，模擬P/E控制器)

產品調試:

• 功能驗證 (陣列 + 接口)
• 產品表征 (分布，映射，子集識別)
• 使用嵌入式控制器來進行全部或者部分陣列循環

產品質檢:

• 錯誤分析
• 互動檢測

制造和產品生命周期

過程控制：

• 測試結構的功能性和可靠性分析
• 陣列測試和表征 (分布，映射，子集識別)
• 全部或者部分陣列循環

產品質量控制：

• 產品的功能性和可靠性分析
• 產品表征 (分布圖，映射，子集識別)
• 使用嵌入式控制器進行全部或者部分陣列循環

錯誤分析：

• 得知錯誤是來自于測試過程還是質量控制過程
• 互動檢測

現場回報分析：

• 了解現場應用的故障
• 互動檢測